基于滤光片的寿命测量系统

基本信息

Becker&Hickl基于滤光片的寿命测量系统

特点

  • 1个 SPC模块
  • 通过bh ps二极管激光器(BDS-SM或BDL-SMN系列)激励
  • 可选fs光纤激光
  • 通过滤光片选择波长
  • 利用bh HPM-100混合探测器
  • 记录荧光寿命中的动态效应
  • 同时检测荧光和磷光衰变
  • 极高的灵敏度
  • 优良的动态范围
  • 超高时间分辨率
  • 使用BDS-SM激光器和HPM-100-06/07将IRF宽度降至40 ps半宽
  • 使用fs光纤激光器的IRF宽度<20 ps
  • 低成本探测器选项:PMC-150 PMT模块